|
|
یازدهمین کنفرانس بین‌المللی مهندسی صنایع
|
|
|
| عنوان فارسی |
به کارگیری آزمون تسریع شونده برای پیشگویی عمر لامپ بر حسب سرعت تبخیر سطحیفیلامان |
|
| چکیده فارسی مقاله |
برای ارزیابی قابلیت اطمینان قطعات و سیستم ها به داده های مربوط به عمر آن ها با همان مدت زمان تا شکستشان، نیاز است در شرایط عملکرد عادی محصول یافتن این ارقام و اطلاعات بسیار سختاست. به همین دلیل برای ارزیابی عمر محصولات تستهای تسریع شونده که از جمله تست های مخرب هستند، استفاده فراوانی دارند. در این تست ها از رابطه استرس - عمر برای یافتن تعمر طبیعی محصول استفاده می شود. در خصوص عمر لامپ شما در حال حاضر این رابطه مبتنی بر ولتاژ است. مکانیزم آن شامل افزایش ولتاژ اعمالی و یافتن مقدار ولتاژی است که لامپ در آن می سوزد. سپس با قرار دادن این مقدار در رابطه، عنصر طبیعی لامپ به دست می آید. در این مقاله سعی شده است رابطه استرس حتمصر دیگری برای لامپ روشنایی مبتنی بر سرعت تبخیر فیلامان آن ارائه شود که در این روابط دیگر نیازی به سوختن لامپ وجود ندارد. سوختن فیلامان با رشته لامپ تاشی از تبخیر سطحی فلز تنگستن است. از آنجایی که سرعت تبخیر قبلامان تابعی از دماست به همین علت روابط برای سرعت تبخیر فیلامان بر حسب دما ارائه می گردد. برای این منظور از نرم افزار 1. 1CurveExpert Professional برای ایجاد مدل ها جهت ارتباط سرعت تبخیر فیلامان با دما استفاده شده است. بر اساس داده های تجربی سرعت تبخیر در بازه های دمایی مختلف، معادلاتی بدست می آیند که می توان با ادغام آنها درمعادلات تئوری مربوط به عمر فیلامان، معادلات نیمه تجربی برای پیشگویی عصر فیلامان و در نتیجه عمر لامپ ها ارائه نمود. |
|
| کلیدواژه‌های فارسی مقاله |
تست تسریع شوندهه رابطه استرس - تمر، لامپ روشنایی، تنگستن، سرعت تبخیر. فیلامان |
|
| عنوان انگلیسی |
Using of Accelerating life test analysis to predict life of the lamp based on thefilament evaporation rates |
|
| چکیده انگلیسی مقاله |
To acquire reliability information of a system or component, we need their life or time-to-failure data information. Finding such life data in normal use is very difficult, if not impossible. For this reason, Accelerated Life Tests are very common. They are destructive tests. In these tests, we must have a stresslife model to find the real life of a product. This stress-life model for an Incandescent lampis basedon the voltage in which the lamp fails. With putting this voltage in the stress-life model, we can find the real life of the lamp. In this paper, we have tried to find another stress-life model for the lamp based on the evaporation rate of the filament that does not need the lamp to fail.Evaporation rate of the filament is a function of temperature so the model we propose is related to temperature. To find the model we have used software called Curve Expert Professional . Based on the experimental data of evaporation rate in different temperatures, some models are found then with mixing these models with theoretical ones, semi empirical equations for filament life are suggested and then lamp life is predicted. |
|
| کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله |
Accelerated Life Tests, Stress-life models, Incandescent lamps, Tungsten. Evaporation rate, Filament. |
|
| نویسندگان مقاله |
Zeinab Chaichi - Iran University of Science and Technology
Alireza Moini - Iran University of Science and Technology
Mohammad Javad Chaichi - University of Mazandaran
|
|
| نشانی اینترنتی |
iiec2015.org |
| فایل مقاله |
دریافت فایل مقاله |
| کد مقاله (doi) |
|
| زبان مقاله منتشر شده |
fa |
| موضوعات مقاله منتشر شده |
|
| نوع مقاله منتشر شده |
|
|
|
|
برگشت به:
صفحه اول پایگاه |
دوره مرتبط |
کنفرانس مرتبط |
فهرست کنفرانس ها
|
